Wie Elektronenspektroskopie Löcher misst

Ein ultrakurzer Lichtblitz bricht die Bindung zwischen Elektron ( rot ) und Loch ( blau ) auf und ermöglicht so die Erforschung von Landungstransferprozessen in atomar dünnen Halbleitern. Foto: Lukas Kroll, Jan Philipp Bange, Marcel Reutzel, Stefan Mathias Forschungsteam erhält neuen Einblick in Ladungstransferprozesse an atomar dünner Grenzfläche zwischen zwei Halbleitern Halbleiter sind in der Elektrotechnik weit verbreitet. Sie werden in elektronischen Produkten verbaut, wo sie den Stromfluss entweder ermöglichen oder verhindern. Um zweidimensionale Materialien für zukünftige Computerund Photovoltaiktechnologien zu erforschen, haben Forschende der Universitäten Göttingen, Marburg und Cambridge die Bindung zwischen den in Halbleitern enthaltenen Elektronen und Löchern untersucht. Indem sie diese Bindung mit einem speziellen Verfahren aufbrachen, erhielten sie einen mikroskopischen Einblick in Ladungstransferprozesse über eine Halbleitergrenzfläche. Die Ergebnisse wurden in der Fachzeitschrift Science Advances veröffentlicht. Strahlt Licht auf einen Halbleiter, gibt es Energie an diesen ab.