Auf den Punkt

Wissenschaftler der TU Ilmenau haben eine unkonventionelle Methode basierend auf einer nanometerskaligen Rasterspitze entwickelt, um zweidimensionale, halbleitende Nanomaterialen mit höchster Präzision minimalinvasiv zu strukturieren und zu studieren. Die Forschungsergebnisse entstanden im Rahmen einer Promotion innerhalb des Graduiertenkollegs ,,Spitzenund laserbasierte 3D-Nanofabrikation in ausgedehnten makroskopischen Arbeitsbereichen" ( 3D-NanoFab ) unter Leitung von Steffen Strehle und wurden in der renommierten Zeitschrift ,,Advanced Materials" veröffentlicht.

Als Halbleitermaterial, beispielsweise für Computer, Smartphones oder Solartechnik, wird meist Silizium verwendet. ...